2018年，我们看到了半导体元器件和汽车的融合，看到了人工智能产业的落地艰辛，当然还有5G技术和测试飞速发展将商用时间提前等等。在即将到来的2019年，我们关注的重点和难点又在哪里呢？11月13日，NI (美国国家仪器公司，National Instruments，简称NI)发布了《NI 趋势展望报告2019》。报告探讨了日新月异的技术发展所面临的关键工程趋势和挑战，包括物联网（IoT）、从原型验证到商业化部署的5G技术推进以及大众自动驾驶等领域。

     2018年6月，5G核心标准落地。大规模网络部署与应用测试即将到来。传统的数据通信测试是通过线缆直连的方式完成数据传输信道的性能指标、终端设备的规程协议、产品在符合标准方面的一致性测试等测试。5G具有高频、高带宽、大规模天线、复杂的三维建模等特点，使得5G测试与4G相比区别很大。
 《NI趋势展望报告2019》中重点解读了5G中MU-MIMO和mmWave技术的测试难点，NI业务和技术研究员 Charles Schroeder负责完成这一部分的报告。报告指出，MU-MIMO和mmWave技术的物理实现需要使用比前几代蜂窝标准更多的天线元件。根据物理学定律，mmWave频率的信号在通过自由空间时将比当前蜂窝频率的信号衰减得更快。因此，在发射功率电平近似的情况下，mmWave蜂窝频率的范围将比当前蜂窝频带小得多。
   为了克服这种路径损耗，5G发射器和接收器将利用并行工作的天线阵列，并使用波束成形技术来提升信号功率，而不是像目前的设备那样每个频带使用一个天线。这些天线阵列和波束成形技术不仅对于增加信号功率很重要，对于实现MU-MIMO技术也同样至关重要。
 
那如何将所有这些天线安装到未来的手机中？幸运的是，mmWave频率的天线将比用于当前标准的蜂窝天线小得多。新的封装技术，如集成天线封装（antenna in package，AiP，即天线阵列位于芯片的封装内），将使得这些天线更容易集成到现代智能手机的小空间内，但天线阵列可能*封闭，没有任何可直接接触的测试点。
 
《NI趋势展望报告2019》指出，将使用OTA解决新挑战。OTA是AiP技术的选择，因为天线阵列集成在封装内，无法通过导线直接连接阵列元件。即使测试工程师可以使用传导测试方法连接各个天线元件，他们也面临着选择并行测试（购买更多仪器带来的资本支出）还是连续测试（测试时间和吞吐量增加带来的运营成本）的困难。虽然许多技术问题，测量精度问题、全新的测量方法、RF带宽上进行校准和测量所需的处理量增加等，仍有待解决，但OTA测试提供了将阵列作为一个系统而不是一组独立元件进行测试的可能性，这有望提供系统级测试的率。